ð āđāļĄāļ·āđāļāļ§āļąāļāļāļĩāđ 9 āļāļļāļĄāļ āļēāļāļąāļāļāđ 2569 āļāļĩāđāļāđāļēāļāļĄāļē āļĻāļđāļāļĒāđāļŊ āđāļāđāļĄāļĩāđāļāļāļēāļŠāđāļāļīāļāļāđāļēāļāļāđāļāļāļĢāļąāļāļāļīāļŠāļīāļāļĢāļēāļĒāļ§āļīāļāļē 01420475 āđāļĨāļ° 01420478
āļāļĢāļĢāļĒāļēāļāļēāļĻāļāļēāļĢāđāļĢāļĩāļĒāļāļĢāļđāđāđāļāļ§āļąāļāļāļĩāđ āļāđāļāļ āđ āđāļāđāđāļāļēāļ°āļĨāļķāļāļāļēāļĢāļāļģāļāļēāļāļāļāļāļāļĨāļļāđāļĄāđāļāļĢāļ·āđāļāļāļĄāļ·āļāļ§āļīāđāļāļĢāļēāļ°āļŦāđāļāļĢāļ°āļŠāļīāļāļāļīāļ āļēāļāļŠāļđāļāđāļ 3 āļĄāļīāļāļīāļŦāļĨāļąāļ:
ð 1. āļāļēāļĢāļ§āļīāđāļāļĢāļēāļ°āļŦāđāļ āļēāļāļāđāļēāļĒāđāļĨāļ°āļŠāļąāļāļāļēāļāļ§āļīāļāļĒāļē (Imaging & Morphology)
- ðŽ SEM : āđāļĢāļĩāļĒāļāļĢāļđāđāļāļēāļĢāļāļģāļāļēāļāļāļāļāđāļāļĢāļ·āđāļāļ SEM (FEI quanta 450)
- ðđïļ AFM (Atomic Force Microscope): āļŠāļąāļĄāļāļąāļŠāđāļāļāđāļāđāļĨāļĒāļĩāļāļēāļĢāļŠāđāļāļāļāļ·āđāļāļāļīāļ§āđāļāļĢāļ°āļāļąāļāļāļēāđāļāđāļĄāļāļĢ āđāļāļ·āđāļāļ§āļīāđāļāļĢāļēāļ°āļŦāđāļĨāļąāļāļĐāļāļ°āļāļēāļāļāļēāļĒāļ āļēāļ 3 āļĄāļīāļāļī āđāļĨāļ°āļāļ§āļēāļĄāļāļĢāļļāļāļĢāļ°āļāļāļāļāļ·āđāļāļāļīāļ§āļāļąāļ§āļāļĒāđāļēāļ
ð 2. āļāļēāļĢāļ§āļīāđāļāļĢāļēāļ°āļŦāđāđāļāļĢāļāļŠāļĢāđāļēāļāđāļĨāļ°āļāļļāļāļŠāļĄāļāļąāļāļīāļāļ·āđāļāļāļīāļ§ (Structural & Surface Analysis)
- ð XRD (X-ray Diffraction): āļĻāļķāļāļĐāļēāļāļēāļĢāļ§āļīāđāļāļĢāļēāļ°āļŦāđāđāļāļĢāļāļŠāļĢāđāļēāļāļ āļēāļĒāđāļāđāļĨāļ°āļāļēāļĢāļāļąāļāđāļĢāļĩāļĒāļāļāļąāļ§āļāļāļāđāļĄāđāļĨāļāļļāļĨ āļāļķāđāļāđāļāđāļāļāļ·āđāļāļāļēāļāļŠāļģāļāļąāļāļāļāļāļāļēāļĢāļĢāļ°āļāļļāđāļāļāļĨāļąāļāļĐāļāđāļāļāļāļāļąāļ§āļāļĒāđāļēāļāļ§āļīāļāļąāļĒ
- ð§Š Surface Analyzer: āđāļāļēāļ°āļĨāļķāļāļāļēāļĢāļ§āļąāļāļāļ·āđāļāļāļĩāđāļāļīāļ§āđāļĨāļ°āļĢāļđāļāļĢāļļāļ āđāļāļ·āđāļāļāļģāļāļ§āļēāļĄāđāļāđāļēāđāļāļāļĪāļāļīāļāļĢāļĢāļĄāļāļēāļāļāļēāļĒāļ āļēāļāđāļĨāļ°āđāļāļĄāļĩāļāļāļāļāļąāļ§āļāļĒāđāļēāļāđāļāļĢāļ°āļāļąāļāđāļāļīāļāļĨāļķāļ
ð 3. āļāļēāļĢāļ§āļīāđāļāļĢāļēāļ°āļŦāđāđāļāļīāļāļŠāđāļāļāđāļāļĢāļŠāđāļāļāļĩ (Spectroscopy)
- âïļ UV-Visible Spectroscopy: āđāļĢāļĩāļĒāļāļĢāļđāđāļāļēāļĢāļāļāļāļŠāļāļāļāļāđāļāđāļŠāļāļāļāļāļŠāļēāļĢāļāļąāļ§āļāļĒāđāļēāļ āđāļāļ·āđāļāļāļēāļĢāļ§āļīāđāļāļĢāļēāļ°āļŦāđāđāļāļīāļāļāļļāļāļ āļēāļāđāļĨāļ°āļāļĢāļīāļĄāļēāļāļāļĩāđāļĄāļĩāļāļ§āļēāļĄāđāļĄāđāļāļĒāļģāļŠāļđāļ
āđāļāļĢāļ·āđāļāļāļĄāļ·āļāļŦāļĨāļąāļ: AFM, SEM (FEI quanta 450), Surface Analyzer, XRD, UV visible