Skip to content
Translated by
Google
Translate

Field Emission Transmission Electron Microscope (FETEM)

201 Views อัพเดทเมื่อ 30 มกราคม 2569 โดย sciku-admin

MODEL: JEOL JEM3100F

JEM-3100F ซึ่งเป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเชิงวิเคราะห์ความละเอียดสูง สามารถถ่ายภาพโครงสร้างและการวิเคราะห์วัสดุในระดับนาโนเมตรที่มีความละเอียดระดับนาโนเมตรได้ ระบบออปติคอลอิเล็กตรอนที่ล้ำสมัยของกล้องจุลทรรศน์นี้ช่วยให้เราได้ภาพที่คมชัดด้วยความละเอียด 0.1 นาโนเมตรทั้งในโหมด TEM และ STEM JEM-3100F ได้ปรับปรุงความเสถียรทางกลและทางไฟฟ้า ให้ลำแสงอิเล็กตรอนที่เสถียรแม้สำหรับโพรบ 0.14 นาโนเมตร คุณสมบัติเหล่านี้ทำให้ JEM-3100F เป็นเครื่องมือวิจัยที่ทรงพลังสำหรับการวิเคราะห์วัสดุในระดับอะตอม

ประกาศ

การส่งตัวอย่างวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (FETEM) ระหว่างเดือนกุมภาพันธ์ – กรกฎาคม พ.ศ. 2569

กำลังโหลดข้อมูล…

หน้า /

ขั้นตอนการส่งตัวอย่าง FETEM

กำลังโหลดข้อมูล…

หน้า /

PRICE

ListsPrice
Instrument Usage Fee (THB/hour)4,000
Additional Service Fee
EDS Mode (THB/point)200
Imaging fee (THB/image)20
Carbon-copper grid (THB/piece)200

*บุคลากรภายในคณะและมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ โปรดติดต่อเจ้าหน้าที่

APPLICATION

  • High-resolution imaging
  • Nanomaterial analysis
  • Crystallography
  • etc.
CONTACT STAFF
© 2026 ศูนย์เครื่องมือคณะวิทยาศาสตร์ มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์