หน้าหลัก > เครื่องมือวิทยาศาสตร์และอัตราค่าบริการ> Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)

Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)

933 Views อัพเดทเมื่อ 04 กันยายน 2569 โดย sciku-admin

🔬 กำลังดึงข้อมูล…

บริการวิเคราะห์ทดสอบด้วย เครื่องมือวิทยาศาสตร์ ณ ศูนย์เครื่องมือคณะวิทยาศาสตร์ มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ สนับสนุนงานวิจัยสำหรับบุคลากรภายในและหน่วยงานภายนอก

MODEL: JEOL JEM3100F

JEM-3100F ซึ่งเป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเชิงวิเคราะห์ความละเอียดสูง สามารถถ่ายภาพโครงสร้างและการวิเคราะห์วัสดุในระดับนาโนเมตรที่มีความละเอียดระดับนาโนเมตรได้ ระบบออปติคอลอิเล็กตรอนที่ล้ำสมัยของกล้องจุลทรรศน์นี้ช่วยให้เราได้ภาพที่คมชัดด้วยความละเอียด 0.1 นาโนเมตรทั้งในโหมด TEM และ STEM JEM-3100F ได้ปรับปรุงความเสถียรทางกลและทางไฟฟ้า ให้ลำแสงอิเล็กตรอนที่เสถียรแม้สำหรับโพรบ 0.14 นาโนเมตร คุณสมบัติเหล่านี้ทำให้ JEM-3100F เป็นเครื่องมือวิจัยที่ทรงพลังสำหรับการวิเคราะห์วัสดุในระดับอะตอม

More Info

Sample Submission form

ขั้นตอนการส่งตัวอย่าง FE-TEM

กำลังโหลดข้อมูล…

หน้า /

ดาวน์โหลดไฟล์

PRICE

Lists	Price
Instrument Usage Fee (THB/hour)	4,000
Additional Service Fee
EDS Mode (THB/point)	200
Imaging fee (THB/image)	20
Carbon-copper grid (THB/piece)	200

*บุคลากรภายในคณะและมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ โปรดติดต่อเจ้าหน้าที่

APPLICATION

High-resolution imaging
Nanomaterial analysis
Crystallography
etc.

CONTACT STAFF